Microscopio a forza atomica FM-Nanoview 1000 AFM

La testina di scansione e il tavolino portacampioni sono progettati insieme, potenti prestazioni antivibranti; Il rilevamento laser di precisione e il dispositivo di allineamento della sonda rendono la regolazione del laser semplice e facile; Adattare il servomotore per guidare la punta di avvicinamento del campione manualmente o automaticamente, per realizzare un posizionamento preciso dell'area di scansione; l'accuratezza e il dispositivo di trasferimento del campione ad ampio raggio consentono di scansionare qualsiasi area interessante del campione; Sistema di osservazione ottico per il controllo della punta e il posizionamento del campione; Il sistema elettronico è progettato come modulare e facile per la manutenzione e l'ulteriore sviluppo; Adottare la molla per l'isolamento dalle vibrazioni, prestazioni semplici e buone .

Software

1. Due tipi di pixel di campionamento tra cui scegliere: 256 × 256, 512 × 512;

2. Esegui la funzione di spostamento e taglio dell'area di scansione, scegli un'area interessante del campione;

3. Scansiona il campione in un angolo casuale all'inizio;

4. Regolare il sistema di rilevamento del punto laser in tempo reale;

5. Scegliere e impostare un colore diverso dell'immagine di scansione nella tavolozza.

6. Supporta la media lineare e la calibrazione dell'offset in tempo reale per il titolo del campione;

7. Supporta la calibrazione della sensibilità dello scanner e la calibrazione automatica del controller elettronico;

8. Supporta l'analisi offline e il processo dell'immagine campione.

Principali parametri tecnici